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bruker Dektak Pro臺(tái)階儀介紹
BrukerDektakPro布魯克臺(tái)階儀DektakPro™以其多功能,使用的便捷性和在薄膜厚度、臺(tái)階高度、應(yīng)力、表面粗糙度和晶圓翹曲測(cè)量方面廣受贊許。第十一代Dektak®系統(tǒng),具有4?重復(fù)性的表現(xiàn),并提供200毫米平臺(tái)選項(xiàng),在科研以及工業(yè)領(lǐng)域中可以為材料的表面形貌提供各種分析。DektakPro在表面測(cè)量方面設(shè)立了新的目標(biāo),是微電子......
一、控制:WindowsPC人機(jī)交互操軟件,多種語(yǔ)言(含中文),用戶密碼登陸管理權(quán)限,工藝二維折線圖實(shí)時(shí)顯示,一鍵回復(fù)原廠設(shè)置,數(shù)據(jù)備份與還原功能,數(shù)據(jù)自動(dòng)存儲(chǔ)和導(dǎo)入導(dǎo)出功能,可儲(chǔ)存100套工藝參數(shù)二、原料:沉積ParyleneN、C、F-VT4型三、沉積厚度:0.05~30um四、沉積室直徑300mm,深度300mm......
原子力顯微鏡(AtomicForceMicroscope,AFM),一種可用來(lái)研究包括導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它的橫向分辨率可達(dá)0.15m,而縱向分辨率可達(dá)0.05m,AFM最大的特點(diǎn)是可以測(cè)量表面原子之間的力,AFM可測(cè)量的最小力的量級(jí)為10-14-10-16N。AFM還可以測(cè)量表面的彈......
賽默飛X射線衍射儀是一種實(shí)驗(yàn)室中常用的分析儀器,廣泛應(yīng)用于材料分析、結(jié)構(gòu)研究等領(lǐng)域。使用時(shí)進(jìn)行實(shí)驗(yàn)需要注意實(shí)驗(yàn)條件的選擇、樣品制備的方法、實(shí)驗(yàn)操作的技巧以及對(duì)數(shù)據(jù)的處理和分析。只有掌握了正確的方法和技巧,才能得到準(zhǔn)確可靠的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。賽默飛X射線衍射儀的使用方法:首先,要選擇適當(dāng)?shù)膶?shí)驗(yàn)條件。X射線衍射實(shí)驗(yàn)需要使用高能的X......
新產(chǎn)品有售!布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-1000、NPFLEX-1000布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-1000落地式ContourX-1000白光干涉(WLI)系統(tǒng)集成了Bruker在硬件和軟件上的新技術(shù),可用于全自動(dòng)三維表面紋理和粗糙度測(cè)量。布魯克三維光學(xué)輪廓儀NPFLEX-1000落地式NPFLE......
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